El PWB 20um del control de la impedancia del OEM 94v0 de agujeros reviste grueso de 8layer con cobre 1.20m m

PWB 20um del control de la impedancia del OEM 94v0 del grueso de cobre de los agujeros 8layer 1.20m m

Especificaciones dominantes/características especiales:

Garantía de calidad:

Cada proceso de producción tiene una persona especial a probar para asegurar la calidad, AOI, E-prueba, volando la prueba de la punta de prueba.
Tenga ingenieros profesionales para comprobar la calidad
Todos los productos han pasado el CE, la FCC, ROHS y otras certificaciones

Uso:
Ampliamente utilizado en etapa, el control de Industrila, el ordenador, la electrónica consumidora, la seguridad, la electrónica automotriz, de poder, médico, telecomunicaciones etc.

Plazo de ejecución:

FAQ:

1. ¿Cómo hacer ACCPCB aseguraron calidad?

   Nuestro estándar de alta calidad se alcanza con el siguiente.

1,1 el proceso se controla estrictamente bajo estándares del 9001:2008 del ISO.
1,2 uso extenso del software en el manejo del proceso de producción
1,3 equipos y herramientas de prueba del Estado-de-arte. E.g. punta de prueba que vuela, e-prueba, inspección de la radiografía, AOI (inspector óptico automatizado).
equipo de la garantía de calidad 1.4.Dedicated con proceso del análisis de caso del fracaso

2. ¿Qué clase de tableros puede ACCPCB proceso?

    FR4 común, alto-TG y tableros halógeno-libres, tableros de Rogers, de Arlon, de Telfon, de aluminio/cobre-basado, pi, etc.

3. ¿Qué datos son necesarios para la producción del PWB?

    Ficheros del PWB Gerber con formato de RS-274-X.

4. ¿Cuál es el flujo de proceso típico para el PWB de múltiples capas?

    Pila multi-bond→ interna de la capa AOI del corte que graba al agua fuerte del → del → seco interno material de la película del → interno del → encima de presionar el modelo seco externo del → de la película del → de la galjanoplastia del panel del → del → PTH de la perforación del → que platea la inspección visual externa AOI del → que graba al agua fuerte del → del → de la soldadura de la máscara del → de la marca del → del final del → de la encaminamiento del → superficial componente externo del → E/T.